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        哪種閃爍體(GOS或CsI)更適合X射線平板探測器?

               有一些類型的晶體可以吸收X射線并產生可見光,這些被稱為閃爍體,它們是間接面板的第一步。閃爍層最常用的兩種材料是Gd?O?S(GadoliniumOxiSulfate,也稱為:GadOx或GOS)和碘化銫。那么哪種閃爍體更適合平板探測器材料呢?
               GOS比CsI便宜并提供良好的光輸出,但光會散開,導致將在后續步驟中測量的光信號模糊。
               另一方面,CsI具有較少的光傳播,因為晶體具有柱狀結構,因此光在穿過晶體時將跟隨CsI的柱。與GOS系統相比,這種減少的模糊導致基于CsI的系統具有更高的空間分辨率。
         

        閃爍體 價格 空間分辨率 光纖耦合
        Gd?O?S $ +
        CsI $$ ++ +
         
               此外,其中一種類型的平板(間接CCD類型)需要將光向下聚焦,例如使用光纖,以在CCD上測量更小的尺寸。來自GOS的光在方向上也有更多的傳播,這使得聚焦變得困難。由于這個原因,CsI更常被選擇用于CCD類型的平板系統。
               對于通用放射系統,GOS和CsI都是可接受的閃爍層選擇,這是基于成本與空間分辨率的權衡。
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